Paper Abstract
論文抄録
日本ばね学会論文抄録陽電子寿命測定を用いた格子欠陥評価 （ショットピーニング試料の測定例）
号数
ばね論文集66号（2021）
該当ページ
P83-86
種類
論文
Evaluation of Lattice Defects using the Positron Annihilation Lifetime Measurement （Measurement example of shot-peened samples）

陽電子寿命測定を用いた格子欠陥評価 （ショットピーニング試料の測定例）

執筆者
山脇正人1)，上杉直也2)
所属
1)国立研究開発法人産業技術総合研究所 2)東洋精鋼株式会社
Author
Masato YAMAWAKI1),Naoya UESUGI2)
Belonging
1)National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 2)TOYO SEIKO Co., Ltd.

抄録

陽電子寿命測定法は，金属の格子欠陥や高分子の自由体積等に高感度であることから，超微細欠陥の分析手法として，金属疲労研究や機能性高分子材料の開発等に利用されている．我々は，陽電子寿命測定法をショットピーニングされた部材の評価法として注目し，生産ラインやオンサイトで適用するための市販型の装置を開発した．今回，ショットピーニングされた試料に対する本装置の測定例を X 線回折半価幅の結果と共に報告する．

Summary

The measurement of positron annihilation lifetime has been used as an analytical technique for detecting ultrafine defects. It is also applicable to research on metal fatigue and the development of functional polymer materials since it exhibits high detection sensitivity for lattice defects of metals and free volume of polymers. We focused on the positron annihilation lifetime measurement as an analytical method for shot-peened materials, and developed desktop and portable type systems for in-line or on-site inspections.At this opportunity, we report an example of positron annihilation lifetime measurements for shotpeened samples and make a comparison with the full width of half maximum（FWHM）values of X-ray diffraction（XRD）measurements.

Keyword

Positron Annihilation Lifetime, Anti-coincidence Method, Lattice Defects, Metal Fatigue,Shot-peening, X-ray Diffraction